# Spektrometer XPS 2026 Awarded · Tender **This opportunity has been awarded. Its page stays for reference.** Similar open opportunities: - [Lieferung eines hochauflösenden, massenselektiven Detektors mit MS/MS-Funktion (QTOF) und HPLC](https://inteliwert.com/tender/opp_MQMJNDS1CFW2PPZ6SJY5JCYN2W/lieferung-eines-hochaufloesenden-massenselektiven-detektors-mit-ms-ms-funktion-q) - [Strahlstromtransformer](https://inteliwert.com/tender/opp_6Q77Q9VH1EHJ9XACHMN2Y6EGYY/strahlstromtransformer) - [Stickstoff-Füll-Prüf-Vorrichtung (N-Spül-Ger)](https://inteliwert.com/tender/opp_E2VFKJE9EGNK9CPW8BS2EPVEV3/stickstoff-fuell-pruef-vorrichtung-n-spuel-ger) - [069-26 EU WWC XRD-Gesamtsystems für die Mikrodiffraktometrie](https://inteliwert.com/tender/opp_43CJQ4Q366JVWCBRCTMXGCC542/069-26-eu-wwc-xrd-gesamtsystems-fuer-die-mikrodiffraktometrie) ## At a glance Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH is procuring Spectrometers (CPV 38433000) in Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32). It has been awarded. Procedure type: Negotiated without prior call for competition. ### From the notice Beschaffung eines bildgebenden Mikrobereichs-Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer (µ-XPS) mit integrierten Analysemethoden ## Key facts - Status: Awarded - Deadline: No deadline in the notice - Buyer: [Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH](https://inteliwert.com/company/org_MW9TWV51YRVW1HAABN9SYE9H9H/institut-fuer-oberflaechen-und-schichttechnik-gmbh), Kaiserslautern, DE - Place of performance: Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32) - Main CPV: Spectrometers (CPV 38433000) - Procedure: Negotiated without prior call for competition - Lots: 1 - First published: 17 June 2026, 19:52 (UTC+02:00) Source: [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/bb2babae-17e4-42b7-958c-3fe08292ac13). Each fact is from the official notice, last checked 11 November 2026, 14:31 (UTC+01:00). Fact sheet: [Inteliwert fact sheet: Spektrometer XPS 2026 — Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH. A product of Bandpey GmbH.](https://inteliwert.com/cards/opp_0H393P31NK6GQM6D3BDC6KF52P/ntv_YBD1ZBXVJ0KD4CD329P9ZH41RV/en-sheet.png) (PNG, 1600 × 900) ## Lots (1) ### Lot LOT-0001: Spektrometer XPS 2026 Die nachfolgend aufgeführten Funktionen stellen zwingende Mindestanforderungen für die Beschaffung dar. M1 - Bildgebende hochortsauflösende Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) als Kerntechnologie (µ-XPS). Das System muss Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) mit monochromatischer Al K(alpha)-Strahlung durchführen können. Die Energieauflösung muss <= 0,5 eV (FWHM Ag 3d5/2), auch auf isolierenden Proben betragen. Die laterale Auflösung muss <= 10 µm (Spotgröße) erreichen. Auch gefordert ist eine Bild-gebende XPS Analytik, bei der voll quantifizierbare Element-Konzentrations-Verteilungen aufgenommen werden können. Die möglichen Bildbereiche sollen dabei von ca. 100 Mikrometer Durchmesser bis in den Bereich mehrerer Millimeter reichen. Zudem ist (bei hohen Vergrößerungen) eine Lateralauflösung <=10 µm gefordert. Die technische Realisierung kann sowohl durch Rastern des Röntgenstrahls, Verfahren der Stage oder elektronenoptische Abbildungen der Analysator-Eintrittsblende erfolgen. Zudem sollen chemische Bindungszustände auch in der Bildgebung unterschieden werden können. Die Bildgebung muss zwingend auf isolierenden, magnetisierbaren, magnetischen Proben ohne entscheidende Verluste an Sensitivität, energetischer und räumlicher Auflösung möglich sein. Falls eine magnetische Immersionslinse unter der Probenebene genutzt wird muss der Anbieter nachweisen, dass auch stark magnetische Proben ohne Qualitätseinbußen charakterisiert werden können. M2 - Simultane Ladungsneutralisierung mit niederenergetischen Elektronen und Ar-Ionen. Das System muss über eine Ladungskompensation verfügen, die aus einer einzigen koaxialen Quelle oder aus zwei steuerungstechnisch gekoppelten Quellen simultan oder alternierend mit geeigneten Schaltzeiten niederenergetische Elektronen und Ar-Ionen emittiert, um so eine automatische, quasi-stationäre Neutralisierung durchzuführen und damit auch auf lokal isolierenden Probenbereichen nur einen verschwindenden, aufladungsbedingten Energie-Shift realisiert. M3 - Schaltbare Ionenquelle: Cluster-Modus (GCIB) und Atom-Modus (monoatomar) aus einer Quelle mit Massenselektion. Das System muss eine Ionenquelle aufweisen, die zwischen einem Cluster-Ionenmodus (Gas Cluster Ion Beam, GCIB, Clustergröße variabel bis <= 2000 Ar-Atome/Cluster) und einem monoatomaren Ar-Modus umschalten kann, oder über zwei separat schaltbare Quellen verfügen. Die Massenauswahl muss durch einen Massen-Selektor sei es magnetisches Sektorfeld oder Wien-Filter erfolgen, der eine definierte Clustergrößenauswahl ermöglicht. Ein rein elektrostatisches Quadrupol-System käme bei dieser Clustergröße schon in den Grenzbereich. M4 - Integrierte optische Probenbeobachtung ohne Beeinträchtigung des Analysestrahlengangs. Das System muss eine koaxiale optische Probenbeobachtung ermöglichen, bei der der Beobachtungsstrahlengang koaxial mit dem Analysator-Eintritt ausgerichtet ist und der Analysator-Eingang durch einen perforierten Spiegel (Lochspiegel, 45°-Anordnung) freigehalten wird. M5 - Integrierte schnelle Tiefenprofilierung mit vernachlässigbarem Einfluss auf die chemische Struktur. Für die am Institut untersuchten Materialsysteme, darunter funktionale Oxidschichten, Batterieelektrodenmaterialien, Triboschichten verschleißbehafteter Bauteile sowie empfindliche Grenzflächen und dünne Schichten, ist es zwingend erforderlich, ein Abtragverfahren einzusetzen, das den Energieeintrag in die Probe auf ein Minimum reduziert und insbesondere keine relevanten thermischen oder impulsinduzierten Veränderungen verursacht. Oberflächen-Stöchiometrie, -Bindungszustände und Chemie sollen möglichst schonend auch über extreme Tiefenbereiche bis zu <100µm verfolgt werden können. Effekt durch Aufrauhung sollen möglichst vermieden werden. Vor diesem Hintergrund besteht die funktionale Mindestanforderung, dass das einzusetzende Tiefenprofilierungsverfahren weitgehend frei von thermischen Effekten sowie von stoßkaskadeninduzierten Impulseinträgen ist. Ausschließlich eine in das XPS-Vakuumsystem integrierte fs-Laserablation ist geeignet, die bestehenden methodischen Limitierungen konventioneller Sputterverfahren zu überwinden und gleichzeitig die erforderliche analytische Integrität der Proben sicherzustellen. Ex-situ-Ansätze scheiden aufgrund unvermeidbarer Reoxidations-, Kontaminations-, Positions- und Korrelationsprobleme als gleichwertige Alternative aus. Darüber hinaus ist die fs-Laserablation nach dem derzeitigen Stand der Technik die einzige praktikable Methode, um Tiefenprofile bis in den Bereich von 10 µm bis hin zu >= 100 µm unter Erhalt von Stöchiometrie und chemischen Bindungszuständen in vertretbaren Messzeiten zu realisieren. Konventionelle Ionensputterverfahren sind in diesem Tiefenbereich sowohl aus zeitlichen als auch aus physikalisch-methodischen Gründen nicht sinnvoll einsetzbar. Die in-situ fs-Laserablation stellt damit eine zwingende funktionale Voraussetzung dar, um valide Tiefenprofile auch bei komplexen, reaktiven und/oder dickschichtigen Materialsystemen zu ermöglichen und zentrale wissenschaftliche sowie auftragsbezogene Fragestellungen des Instituts überhaupt bearbeiten zu können. Das System muss daher zwingend eine Femtosekunden-(fs)-Laserablations-Einheit aufweisen, die folgende funktionalen Parameter erfüllt: -Pulsdauer: Femtosekundenbereich (< 1 ps) -Integration: Im selben Vakuumsystem wie XPS-Analysator -Zyklussteuerung: Automatisch: Ablation => XPS-Analyse => Wiederholung -Parametersteuerung: Automatische Anpassung von Pulsdauer, Energie, Repetitionsrate, Wellenlänge, Spotgröße durch Controller - Strahlprofil: Definiertes Top-Hat-Profil oder Gaus-artig, schaltbar -Polarisationssteuerung: Variable Polarisation (linear, zirkulär, elliptisch) oder Polarisationsrotation -Tiefenreichweite: > 50 µm (übersteigt Kapazität konventioneller Ionensputterprofilierung) - CPV: Spectrometers (CPV 38433000) - Place: Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32) ## Timeline - 17 June 2026, 19:52 (UTC+02:00): Original notice, Notice, version 01 (Voluntary ex-ante transparency notice), [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/b143e135-5a7c-46f4-b8b2-40736751e943) - 9 July 2026, 13:40 (UTC+02:00): Award notice, Notice, version 01 (Contract or concession award notice – standard regime), [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/bb2babae-17e4-42b7-958c-3fe08292ac13) - Award: Award. Winner: FEI Deutschland GmbH; Tenders received: 1 ## Classification - CPV codes: Spectrometers (CPV 38433000) - NUTS regions: Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32) - Other parties in the notice: Fei Deutschland GmbH /Thermo Fisher Scientific GmbH (Tenderer); Fei Deutschland GmbH /Thermo Fisher Scientific GmbH (Winner) ## Official documents No documents found in the indexed notice. ## Questions and answers ### Who is the buyer? Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH, Kaiserslautern, DE. ### What is being procured (CPV)? Spectrometers (CPV 38433000). ### Where is the work performed (NUTS)? Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32). ### Is it divided into lots? No, the notice names a single lot. ### Which procedure is used? Negotiated without prior call for competition. ### How do I submit a bid? On the official notice or the portal it names. Inteliwert does not submit bids. [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/bb2babae-17e4-42b7-958c-3fe08292ac13) ### Am I eligible? Inteliwert does not judge eligibility. The selection criteria are in the official notice. [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/bb2babae-17e4-42b7-958c-3fe08292ac13) ## More from this buyer Other published opportunities of this buyer in the indexed notices, open ones first. - [Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)](https://inteliwert.com/tender/opp_DRTEJA72JMBQ27EB49NTBMWBVZ/dual-beam-focused-ion-beam-system-fib-und-transmissionselektronenmikroskop-tem) Closed · Buyer: Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH · Place: DEB32 (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 17 Aug 2026, 23:59 (UTC+02:00) (Deadline passed) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/c6abad07-e17d-4e42-b1fc-35d01bf3fcf6), Last checked 10 Nov 2026, 09:30 (UTC+01:00) - [Lasermikrobearbeitungsanlage und Lasersystem](https://inteliwert.com/tender/opp_S0JAZHD7S0WWMBPQXAS6FN0KFD/lasermikrobearbeitungsanlage-und-lasersystem) Closed · Buyer: Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH · Place: DEB32 (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 17 Aug 2026, 23:59 (UTC+02:00) (Deadline passed) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/9090a9a7-a9ed-4e49-a688-ff057e8650dd), Last checked 10 Nov 2026, 09:30 (UTC+01:00) - [LIBS-Mikroskop 2026](https://inteliwert.com/tender/opp_Y6C5MRSEDZTYBRQ50MHEAZ0K2R/libs-mikroskop-2026) Awarded · Buyer: Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH · Place: DEB32 (Rheinland-Pfalz) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/6f862046-24e2-43b3-a5b5-49628d1847ab), Last checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00) - [ToF-SIMS 2026 (Neuausschreibung)](https://inteliwert.com/tender/opp_4NNW9JN2FEAKVJ6BTM13E1J8YH/tof-sims-2026-neuausschreibung) Closed · Buyer: Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH · Place: DEB32 (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 21 Jul 2026, 23:59 (UTC+02:00) (Deadline passed) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/ff04d1ac-8ba1-4397-89df-e154975ad580), Last checked 11 Nov 2026, 12:31 (UTC+01:00) ## Related opportunities - [Lieferung eines hochauflösenden, massenselektiven Detektors mit MS/MS-Funktion (QTOF) und HPLC](https://inteliwert.com/tender/opp_MQMJNDS1CFW2PPZ6SJY5JCYN2W/lieferung-eines-hochaufloesenden-massenselektiven-detektors-mit-ms-ms-funktion-q) Open · Buyer: Bundesanstalt für Gewässerkunde · Place: DEB11 (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 8 Dec 2026, 12:00 (UTC+01:00) · [Official notice](https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/776652-2026), Last checked 12 Nov 2026, 03:30 (UTC+01:00) - [Strahlstromtransformer](https://inteliwert.com/tender/opp_6Q77Q9VH1EHJ9XACHMN2Y6EGYY/strahlstromtransformer) Open · Buyer: GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH · Place: DEB35 (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 8 Dec 2026, 11:00 (UTC+01:00) · [Official notice](https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/772791-2026), Last checked 12 Nov 2026, 06:30 (UTC+01:00) - [Dünnschicht Röntgendiffraktometer](https://inteliwert.com/tender/opp_DR2PQH7KPVC4TZNHTEX1QSYQF0/duennschicht-roentgendiffraktometer) Open · Buyer: Johannes Gutenberg-Universität Mainz · Place: DEB35 (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 9 Nov 2026, 10:30 (UTC+01:00) (Deadline passed) · Published value: €500,000 excl. VAT · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/7b21ae8e-8f84-4876-9cd0-6dacd942a321), Last checked 6 Nov 2026, 19:30 (UTC+01:00) - [Stickstoff-Füll-Prüf-Vorrichtung (N-Spül-Ger)](https://inteliwert.com/tender/opp_E2VFKJE9EGNK9CPW8BS2EPVEV3/stickstoff-fuell-pruef-vorrichtung-n-spuel-ger) Open · Buyer: Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr · Place: DEB11 (Rheinland-Pfalz), DED2E (Sachsen) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/50366771-71d9-49a9-970a-b7171ed3cfdf), Last checked 6 Nov 2026, 16:30 (UTC+01:00) - [069-26 EU WWC XRD-Gesamtsystems für die Mikrodiffraktometrie](https://inteliwert.com/tender/opp_43CJQ4Q366JVWCBRCTMXGCC542/069-26-eu-wwc-xrd-gesamtsystems-fuer-die-mikrodiffraktometrie) Open · Buyer: Hochschule Koblenz RMC · Place: DEB1B (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 19 Nov 2026, 10:00 (UTC+01:00) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/2930ae3f-8190-4c7a-9484-54134f83543d), Last checked 27 Oct 2026, 06:30 (UTC+01:00) - [Lieferung und Inbetriebsnahme einer Armaturenprüfanlage](https://inteliwert.com/tender/opp_SCF008FKS01N8KVX2M51PRHQGY/lieferung-und-inbetriebsnahme-einer-armaturenpruefanlage) Open · Place: DEB (Rheinland-Pfalz) · Deadline: 12 Nov 2026, 10:00 (UTC+01:00) (Deadline passed) · [Official notice](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/c6ee73e5b9108319), Last checked 26 Oct 2026, 15:35 (UTC+01:00) ## Source - Publisher: Bekanntmachungsservice - Licence: [CC0 1.0](https://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0/) - Official notice: [https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/bb2babae-17e4-42b7-958c-3fe08292ac13](https://oeffentlichevergabe.de/ui/de/notices/bb2babae-17e4-42b7-958c-3fe08292ac13) - Last checked: 11 November 2026, 14:31 (UTC+01:00) The official notice is authoritative. Inteliwert shows what the notice states and links to it. --- Page: https://inteliwert.com/tender/opp_0H393P31NK6GQM6D3BDC6KF52P/spektrometer-xps-2026 Inteliwert is a product of Bandpey GmbH, an international data and AI software company in Munich, Germany, founded and led by Roozbeh Bandpey. Bandpey's products: Facthory, Emolysis, Copolly and Inteliwert. Inteliwert on LinkedIn: https://www.linkedin.com/company/intelliwert, GitHub: https://github.com/inteliwertai.