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nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

At a glance

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 is procuring Surface observing apparatus (CPV 38126000) in Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02). Procedure type: Negotiated with prior publication of a call for competition / competitive with negotiation.

From the notice

nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1)

Key facts

Each fact is from the official notice, last checked 10 November 2026, 08:30 (UTC+01:00).

Status
OpenOfficial notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
Deadline
No deadline in the noticeOfficial notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
Buyer
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12, München, DEOfficial notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
Place of performance
Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)Official notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
Main CPV
Surface observing apparatus (CPV 38126000)Official notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
Procedure
Negotiated with prior publication of a call for competition / competitive with negotiationOfficial notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
Lots
1Official notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)
First published
16 July 2026, 15:31 (UTC+02:00)Official notice · checked 10 Nov 2026, 08:30 (UTC+01:00)

Fact sheet

Inteliwert fact sheet: nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P — Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12. A product of Bandpey GmbH.
The key facts of this page as an image (PNG, 1600 × 900), made from the official notice. © Bandpey GmbH; terms of use. Download the fact sheet

Lots (1)

  1. Lot LOT-0000: nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

    1 Stück nano-XCT inspection tool Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, die Sicherheit und die Lebensdauer innovativer Materialien in Bauteilen und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise auf dem Gebiet der Fehleranalysen an elektronischen Bauelementen. Das Fraunhofer IMWS wird seine Kompetenzen im Bereich der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um den Hochlauf neuer Technologien zur heterogenen Integration zu unterstützen und dabei die Herausforderungen hinsichtlich Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Um die zerstörungsfreie Detektion und Bewertung von Strukturabweichungen, Kontaktfehlern und Schadensmerkmalen sowie deren möglichst präzise Lokalisierung innerhalb des Packages zu ermöglichen - und somit die Grundlage für weiterführende hochauflösende physikalische Diagnostiken zu schaffen -, ist der Einsatz von Systemen der neuesten Generation der Röntgenmikroskopie (XRM) erforderlich. Das Gerät sollte die Möglichkeit bieten, verschiedene Targetmaterialien in Kombination mit Mikroskopoptiken und unterschiedlichen Detektortechnologien einzusetzen, um die submikroskopische Struktur sowie die heterogenen Materialkombinationen von QMI- und 2.5/3D-Bauelementen auflösen zu können. Die Option zur Erweiterung um bzw. Nutzung einer zweiten Röntgenquelle zur Bildgebung von Materialien mit geringer Absorption wäre eine sinnvolle Ergänzung, um heterogene Materialkombinationen bei hohem Probendurchsatz und gleichzeitig bestmöglicher Detail- und Kontrastauflösung analysieren zu können. Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Lieferung eines funktionsfähigen Komplettsystems, einschließlich Montage, Inbetriebnahme sowie aller erforderlichen Anschlüsse, Zulassungen/Zertifizierungen und der für den Betrieb notwendigen Software. Die Anforderungen an ein hochmodernes Präzisions-Röntgenmikroskop für hochintegrierte 2.5/3D-Bauelemente sind im Folgenden beschrieben Optionen: 1.6.3. Scanning-Beugungskontrasttomographie Bildgebungsverfahren zur Darstellung und Analyse kristallographischer Korndaten mittels Röntgenbeugung. 1.7.2. Software "Software/Steuerung" Software oder zusätzliche Softwaremodule zur Optimierung von Messprozessen (hinsichtlich Durchsatz, Ergebnisqualität usw.) und zur Optimierung von Messdatensätzen (Artefaktreduktion, Volumenrekonstruktion, Analysewerkzeuge usw.). Möglichkeit zum Zugriff auf Geräteeinstellungen zur individuellen Anpassung von Messroutinen, zur Triggereinstellung über externe Schnittstellen und zur Auswertung von Gerätedaten.

    CPV
    Surface observing apparatus (CPV 38126000)
    Place
    Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)

Timeline

  1. 16 July 2026, 15:31 (UTC+02:00): Original notice Notice, version 01 (Contract or concession notice – standard regime). Official notice

Buyer and place

Buyer

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
München, DE

Place of performance

  • Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)

Classification

CPV codes

  • 38126000: Surface observing apparatus

NUTS regions

  • DEE02: Halle (Saale), Kreisfreie Stadt

Official documents

Links go to the publisher. Inteliwert does not copy the documents.

Questions and answers

Who is the buyer?

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12, München, DE.

What is being procured (CPV)?

Surface observing apparatus (CPV 38126000).

Where is the work performed (NUTS)?

Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02).

Is it divided into lots?

No, the notice names a single lot.

Which procedure is used?

Negotiated with prior publication of a call for competition / competitive with negotiation.

How do I submit a bid?

On the official notice or the portal it names. Inteliwert does not submit bids. Official notice

Am I eligible?

Inteliwert does not judge eligibility. The selection criteria are in the official notice. Official notice

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Source

Publisher
Bekanntmachungsservice
Licence
CC0 1.0
Last checked
10 November 2026, 08:30 (UTC+01:00)

The official notice is authoritative. Inteliwert shows what the notice states and links to it.

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