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LIBS-Mikroskop 2026
At a glance
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH is procuring Microscopes (CPV 38510000) in Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32). It has been awarded. Procedure type: Negotiated without prior call for competition.
From the notice
Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung, Installation, sicherheitstechnische Integration, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines LIBS Mikroskopsystems einschließlich: - integrierter Laserquelle, - optischer Strahlführung und Probenpositionierung, - Spektrometersystem, - Auswertesoftware, - Einweisung/Schulung, - vollständiger Systemdokumentation, - CE konformer Gesamtsystemintegration.
Key facts
Each fact is from the official notice, last checked 11 November 2026, 01:31 (UTC+01:00).
- Status
- AwardedOfficial notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- Deadline
- No deadline in the noticeOfficial notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- Buyer
- Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH, Kaiserslautern, DEOfficial notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- Place of performance
- Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32)Official notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- Main CPV
- Microscopes (CPV 38510000)Official notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- Procedure
- Negotiated without prior call for competitionOfficial notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- Lots
- 1Official notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
- First published
- 30 June 2026, 12:36 (UTC+02:00)Official notice · checked 11 Nov 2026, 01:31 (UTC+01:00)
Fact sheet
Lots (1)
Lot LOT-0001: LIBS-Mikroskop 2026
Gegenstand des Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation sowie betriebsbereite Übergabe eines modular aufgebauten Digitalmikroskops mit integrierter Möglichkeit zur laserbasierten Materialanalyse mittels Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Das System soll als zentrale Analyseplattform für die Eingangskontrolle von Proben im Institut sowie für die Untersuchung und Bewertung laserbearbeiteter Proben eingesetzt werden. Zur Sicherstellung einer sachgerechten und nachvollziehbaren Bewertung der Proben müssen visuelle Inspektion, hochauflösende mikroskopische Charakterisierung, dreidimensionale Oberflächenanalyse sowie eine quantitative Bestimmung der Elementzusammensetzung in einem integrierten Arbeitsablauf möglich sein. Insbesondere bei der Analyse laserbearbeiteter Proben ist es erforderlich, sowohl morphologische Veränderungen und Bearbeitungsspuren als auch materialbedingte Veränderungen zuverlässig und reproduzierbar zu erfassen. Aus den dargestellten Einsatzbedingungen ergibt sich die Notwendigkeit eines Systems mit hoher Flexibilität hinsichtlich Probenaufnahme, Vergrößerungsbereich und Analytik. Hierzu zählen insbesondere die Fähigkeit zur Untersuchung großflächiger Proben (einschließlich Wafern bis 300 mm), ein weiter Vergrößerungsbereich von der Übersichtsdarstellung bis zur hochauflösenden Detailanalyse, die Möglichkeit zur Untersuchung großvolumiger oder ortsfester Objekte mittels geeigneter optischer Komponenten sowie die Integration einer präparationsarmen bzw. präparationsfreien Elementanalyse direkt am Untersuchungsort. Ergänzend soll die laserbasierte Funktionalität des Systems nicht ausschließlich zur materialanalytischen Untersuchung eingesetzt werden, sondern auch zur Erzeugung definierter Markierungen auf Probenoberflächen dienen, um Messpositionen für nachgelagerte Untersuchungsverfahren eindeutig zu kennzeichnen und wiederzufinden. Hierbei kann der beim LIBS-Verfahren entstehende Materialabtrag gezielt genutzt werden. Alternativ kann die Markierung durch ein zusätzlich integriertes oder funktional gleichwertiges Lasersystem erfolgen. In beiden Fällen ist eine hochpräzise und reproduzierbare Positionierung im Bereich weniger Mikrometer erforderlich, um eine eindeutige Zuordnung zwischen optischer Charakterisierung, analytischen Messungen und weiteren Prüfverfahren sicherzustellen. Aus diesem Grund sind entsprechend genaue, motorisierte Positioniersysteme mit geeigneter Steuerungs- und Referenzfunktionalität erforderlich. Das System soll sowohl für Routineaufgaben der Probenannahme und Qualitätsbewertung als auch für wissenschaftliche Untersuchungen, Entwicklungsarbeiten und Kooperationsprojekte eingesetzt werden. Darüber hinaus dient es der Unterstützung von Forschungs- und Transferaktivitäten sowie der Qualifizierung von wissenschaftlichem Personal. Die geplante Beschaffung beinhaltet ein vollständiges Digitalmikroskop mit Materialanalysefunktion mittels LIBS inklusive aller für den Betrieb erforderlichen Komponenten, Steuerrechner, Software und Zubehörteile. Im Einzelnen soll das Mikroskop mindestens folgende Komponenten enthalten: - Stativlösung, die den Betrieb sämtlicher vorgesehenen Untersuchungs- und Analysefunktionen ohne erforderlichen Messkopfwechsel ermöglicht. Die Realisierung kann durch ein entsprechend ausgelegtes Einzelstativ oder durch eine Doppelstativkonfiguration erfolgen. Ziel ist es, einen unterbrechungsarmen Arbeitsablauf ohne zeitaufwändige Umrüstvorgänge sicherzustellen. - Motorisierte (X,Y,Z) mind. 100mm x 100mm Stage mit Durchlicht-Option - Motorisierte (X,Y,Z) mind. 300mm x 300mm Stage (Notwendig für Charakterisierung und Markierung von 300mm Wafern) - 4-fach Objektiv-Revolver mit 5 wechselbaren Objektiven für Vergrößerungen 5x (Macro) -6000x - Polarisations- und Interferenzkontrast-Optionen für die Objektive des Revolvers - Materialanalyse zur Bestimmung der quantitativen Elementzusammensetzung mittels LIBS - Mobile Kamera Option mit einer Vergrößerung von mindestens 20x-1000x (auch mit zwei Objektiven) - Schwenkoptionen der Stative (mind. 90° mit Revolver, mind. 60° mit LIBS) - Abstandserweiterungen der Stative für höhere Proben Geometrien - Steuer-PC mit Mess- und Auswertesoftware Software incl. Bedieneinheit - Auswerte Software auch für Offline-PCs
Timeline
- Award: Award. Winner: KEYENCE Deutschland GmbH; Tenders received: 1; Lot LOT-0001.
- 30 June 2026, 12:36 (UTC+02:00): Award notice Notice, version 01 (Contract or concession award notice – standard regime). Official notice
Buyer and place
Buyer
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH
Kaiserslautern, DE
Place of performance
- Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32)
Other parties in the notice
- Keyence Deutschland GmbH (Tenderer), Frankfurt a.M.
- Keyence Deutschland GmbH (Winner), Frankfurt a.M.
Classification
CPV codes
- 38510000: Microscopes
NUTS regions
- DEB32: Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt
Official documents
No documents found in the indexed notice.
Questions and answers
Who is the buyer?
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH, Kaiserslautern, DE.
What is being procured (CPV)?
Microscopes (CPV 38510000).
Where is the work performed (NUTS)?
Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt (DEB32).
Is it divided into lots?
No, the notice names a single lot.
Which procedure is used?
Negotiated without prior call for competition.
How do I submit a bid?
On the official notice or the portal it names. Inteliwert does not submit bids. Official notice
Am I eligible?
Inteliwert does not judge eligibility. The selection criteria are in the official notice. Official notice
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Source
- Publisher
- Bekanntmachungsservice
- Licence
- CC0 1.0
- Last checked
- 11 November 2026, 01:31 (UTC+01:00)
The official notice is authoritative. Inteliwert shows what the notice states and links to it.